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晶格失配度怎么算

来源:baiyundou.net   日期:2024-09-23

金融界2024年3月22日消息,据国家知识产权局公告,华为技术有限公司申请一项名为“半导体器件、半导体器件的制造方法以及芯片“,公开号CN117747618A,申请日期为2022年9月。

专利摘要显示,本申请提供了一种半导体器件、半导体器件的制造方法以及芯片,该半导体器件包括:衬底层,第一场效应晶体管,分隔层以及第二场效应晶体管;第一场效应晶体管包括第一沟道,第二场效应晶体管包括第二沟道,第一沟道的成分与第二沟道的成分不同;第二场效应晶体管、分隔层以及第一场效应晶体管沿衬底层的高度方向依次堆叠,第一场效应晶体管堆叠在衬底层的表面;分隔层的成分含量沿垂直于衬底层的方向渐变,分隔层的成分与第一沟道的成分以及第二沟道的成分有关联关系,分隔层的成分为半导体材料。通过上述器件,本申请能够降低N型FET与P型FET之间的晶格失配程度。

本文源自金融界

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(编辑:自媒体)
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