纳米二氧化钛xrd扫描速度

柏戚店4200怎么分析TiO2纳米管的XRD图谱
都王盼18426891664 ______ 美女...这么复杂的问题,才5分是不是太少了点呢? 第一步,你先去把可能存在的各物质的标准PDF卡片找出来,在XRD图中对照标准PDF卡片标出各种物质的晶系,晶格常数等信息,PDF卡片上都有. 第二步,用内标法或者K值法算样品中各种晶相的百分含量.内标法要做内标曲线,K值法会简单点. 第三步,根据你样品中不同晶相所对应的晶面间距公式和布拉格方程求出各自的晶格常数. 第四步,根据谢乐公式求解三种晶相各自的晶粒尺寸 你可以看一下相关方面的书,材料测试技术和晶体衍射之类的.你学材料怎么可能没教过这方面的内容呢?很基础的啊...

柏戚店4200如何用uv1102型紫外 - 可见分光光度计测二氧化钛的吸光度 -
都王盼18426891664 ______ 首先应该利用化学方法是钛离子发色,在分光光度计上进行比色,测量出吸光度,然后选择钛标准液比色测出吸光度,换算后得出钛含量,再换算出二氧化钛含量

柏戚店4200我做XRD测SrTiO3的结构,峰在(110)(111)(200)(211),然后怎么知道它的晶体结构? -
都王盼18426891664 ______[答案] 我不太了解你所说的那个srTIO3,俗话说隔行如隔山,但是我研究二氧化钛TIO2,跟你说我一下TIO2的研究方法,对于SrTIO3是大同小异的,可以照猫画虎了.首先你要确定那种物质有几种晶体结构,比如TiO2就有三种,金红石,锐钛矿,板钛矿.然...

柏戚店4200XRD 慢扫时候的功率是多少?
都王盼18426891664 ______ 功率是可以根据需要定的,我们一般电流是150mA.电压50kV,效果还挺好的,含量占1%的相是能够看到衍射峰的我们做的都是高功率的,而且都是慢扫,0.02度/步,做一个样子要接近一小时XRD的分辨率也就1%,在低的含量就不一定能显示出来衍射峰,但是你的主相要是结晶度好的话,也许能看到第二相的极少含量

柏戚店4200无机纳米材料常用的表征方法有哪些,各有什么特点 -
都王盼18426891664 ______ 粒度分析:分析颗粒尺寸 XRD:分析相种类和结晶性 TEM(透射电镜):分析形貌、微观晶格和结晶性 ZETA电位:分析颗粒表面的活性基团 其他的还有一些光学性质、光催化性质的表征 等

柏戚店4200关于XRD谱图分析,在线等!!!!!!!
都王盼18426891664 ______ 金红石型TiO2属于四方晶系,通过对照JCPDS粉末衍射卡,可以看到衍射峰与标准金红石型TiO2一致,表明制备出目标产物,而且峰型尖锐,衍射强度高,说明产物晶型良好.其中110晶面(27.4度),101晶面(36.1度),111晶面(41.2度),211晶面(54.3度),220晶面(56.6度),002晶面(62.8度),112晶面(69.8度)是金红石型TiO2特征衍射峰.除此之外并未发现其他物质的衍射峰,说明所制备的产物纯正,无杂质. 以上就是单张XRD谱图能得出的结论了,如果多张进行比较,还可以根据峰强度的大小判断晶型的好坏,半峰宽的的大小判断平均晶粒尺寸的大小.

柏戚店4200SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别 -
都王盼18426891664 ______ xrd是x射线衍射,可以分析物相,SEM是扫描电镜,主要是观察显微组织,TEM是透射电镜,主要观察超限微结构.AES是指能谱,主要分析浓度分布.STM扫描隧道显微镜,也是观察超微结构的.AFM是原子力显微镜,主要是观察表面形貌用的-----回答的不是很全.

柏戚店4200传统钛硅分子筛催化和纳米级二氧化钛光催化有何区别?
都王盼18426891664 ______ 光催化原理就是导带禁带间电子转移电子转移,然后再与反应物之间发生转移.因此要求光催化剂一般是半导体这写你可以找本书具体看看关于XRD,若是晶体比较好,那XRD峰比较尖锐,否则结晶性不好偶一点拙见

柏戚店4200聚合物做XRD时为什么通常结晶峰要比无机物少? -
都王盼18426891664 ______[答案] 世界上最好分析的样品应当就是人工合成的了.它们的衍射谱绝对“标准”,甚至不加入任何限定条件就能找出来主要的物相... 导致峰宽化特别严重,有些峰根本都看不到.如果在差一点的仪器上检测,而且扫描速度快一点的话,也许看到的就是一根平...

柏戚店4200【求助】钛酸丁酯水解的产物到底是什么呢? -
都王盼18426891664 ______[答案] 还有我想知道钛酸丁酯水解的到的白色沉淀是不是二氧化钛呀?hahajingwlwg(站内联系TA)测XRD就知道了!bachier(站内联系TA)带有OH-的二氧化钛ahs790808(站内联系TA):):):)我推荐几个文献你看看吧Sugimoto,T.; Zhou,X.; ...