首页 >>  正文

eds元素分析准确度

来源:baiyundou.net   日期:2024-09-25

凤之蒋789ICP - AES分析法有哪些优点 -
余坚轻13980054594 ______ b.ICP-AES优点 1)可以快速地同时进行多元素分析,周期表中多达73种元素皆可测定; 2)测定灵敏度较高,包括易形成难熔氧化物的元素在内 3)基体效应较低,较易建立分析方法; 4)标准曲线具有较宽的线性范围; 5)具有良好的精密度和重复性. c.ICP-AES光谱技术不足 1)工作气体氩气消耗量较大,用分子气体(氮气等)取代氩气的实验未能成功地推广到实际应用; 2)通用气动雾化器的雾化效率很低,检出限对某些元素分析仍不足,灵敏度远低于ICP质谱法和石墨炉原子吸收光谱法.

凤之蒋789Elemental analysis到底可以测什么 -
余坚轻13980054594 ______ Elemental analysis(元素分析) XPS只能测表面元素含量!Elemental analysis相对是比较绝对的样品元素含量!

凤之蒋789EDS能分析表面的元素组成吗 -
余坚轻13980054594 ______ X射线能量分散谱仪(简称能谱仪或EDS) 能谱仪可应用于微区成分分析和样品中元素的点分析、线分析、面分析.能谱仪与波谱仪类似,也有点分析、线分析、面分析三种分析方式,作用与波谱仪类似,但分析速度比波谱仪快的多,其缺点是其分辨率较波谱仪稍差,常有相邻谱峰的重叠现象,使元素分析发生困难.

凤之蒋789有哪位大侠知道金属材料和非金属材料的表面能参数? -
余坚轻13980054594 ______ 当碳含量在能完全溶在铁中的范围内,含碳量越高淬火后形成的马氏体越多,硬度越高,刚性越好.淬火时:温度必须比临界温度高出20-50C°才能发生组织变化.太高了过火,变脆!回火时:(温度从低到高)变化透切,组织均匀.(硬度更高,刚性更好)——马氏体开始兑变(变软,弹性增加)——(超过临界温度)马氏体消失,软,弹性也没了,切削性能好,——完全退火.全软,弹性也几付没了. 详细请看《金属热处理》.

凤之蒋789EDS元素分析与电压的关系 -
余坚轻13980054594 ______ 代表激发出来的电子的能量,不同元素有自己的特征激发能量峰(一般不止一个,是一组),,

凤之蒋789金属表面异物分析是怎么回事 -
余坚轻13980054594 ______ 金属表面异物分析一般用EDS方法,对表面微区进行成份分析, 测试结果为元素态, 是一个定性半定量的测试方法.可检测范围为周期表上的元素C~U. , 半定量值会有误差, 仅供参考. 含量低于1%是检测不出来的.

凤之蒋789为什么XRD并没有相应的峰值,而XRD图谱上有很明显的峰值 -
余坚轻13980054594 ______ 用EDS只是确定了有几种元素,它们可能已经形成了化合物.化合物的XRD与元素单质的XRD是不同的. 查看更多答案>>

凤之蒋789Na元素可以用EDS检测吗 -
余坚轻13980054594 ______ 1、EDS是针对一些元素的含量进行测试,XRD是测试晶体结构的. 2、EDS (Energy Dispersive Spectrometer)能谱分析,能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备.

凤之蒋789扫描电镜和透射电镜区分元素分析仪器,用的分别是什么信号? -
余坚轻13980054594 ______ 进行元素分析的信号主要是作用区发射的元素特征X射线,俄歇电子, 阴极荧光,背散射电子等,特征能量损失电子. SEM 常常使用:EDS,WDS 分光特征X射线; 俄歇电子需要超高真空环境,往往以俄歇电子谱仪的商品出现,也可归入扫描电镜范畴;背散射电子携带微区不同平均原子序数区域的反差信息,定性的了解原子序数高低或者材料密度分布;阴极荧光光谱范围在紫外,可见或红外波段所发射的电磁辐射,这种现象可以被用来检测矿物,半导体和生物样品中痕量元素(ppm级别,用X射线波谱WDS或者X射线能谱EDS都是不能实现的)的分布. TEM常使用特征x射线和特征能量损失电子,

凤之蒋789sem的eds和mapping什么区别 -
余坚轻13980054594 ______ 就定量来说,SEM点分析比线分析和面分析更准确,扫描的方式不同,线分析和面分析只能定性的分析观察视场的元素分布情况(线分析是沿着某个界面的元素分布起伏,而面分析是看整个视场的元素分布情况),点分析可以基本定量分析元素.SEM/EDS是扫描电子显微镜和X-射线能量色散谱仪的简称,两者组合使用,功能非常强大,既能观察微区的形貌又能对微区进行成分分析,在各类分析工作中被广泛运用.EDS mapping时间就长的多了,尤其是如果想得到比较确定的数据的话,一个线扫就可以耗费半个小时.EDS mapping的分辨率不仅取决于束斑尺寸,由于收集时间比较长,样品漂移的影响更大,所以比eels mapping 差不少.

(编辑:自媒体)
关于我们 | 客户服务 | 服务条款 | 联系我们 | 免责声明 | 网站地图 @ 白云都 2024